제목2
Circuit AOI
AOI Automated Optical Inspection Systems
- Fine Pattern의 다양한 제품에 요구되는 검출력 성능 개선과 Remote VVS 불량 판정 고화질 컬러 이미지 및 AI Classification 불량 자동 분류를 위해 CIMS는 Color AOI를 출시하여 판매하고 있습니다.
제품 특징
Color AOI Cx Series
- High-end Sensitive Color Camera 탑재
- X-waveTM 기술을 통한 다중 스펙트럼 이미지 획득
- 딥러닝 기반 이미지 프로세싱을 적용하여 AI 기능 강화
- CIMS 검사 공정 AI 모듈과 호환성 확보
컬러 CCD 탑재로 다채널 이미지 획득
CIMS 다중 스펙트럼 광원 적용
제품 라인업
[Galaxy Series]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space | |
|---|---|---|---|
| Mono Camera | Color Camera | ||
| IC Substrate | Galaxy 4x | Galaxy 4Cx | 4μm |
| Galaxy 5x | Galaxy 5Cx | 5μm | |
| Galaxy 7x | Galaxy 7Cx | 7μm | |
| Galaxy 10x | Galaxy 10Cx | 10μm | |
| HDI, MLB | Galaxy 15x | Galaxy 15Cx | 15μm |
| Galaxy 25x | Galaxy 25Cx | 25μm | |
[Phoenix Series]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space |
|---|---|---|
| IC Substrate | Quantum* | 2~3 μm |
| Phoenix Ultima | 4 μm | |
| Phoenix Nano | 5 μm | |
| Phoenix Micro | 7 μm | |
| Phoenix Maxima | 10 μm | |
| HDI | Phoenix Extra | 15 μm |
| Phoenix Turbo | 25 μm | |
| HDI, MLB | Phoenix HDI | 30 μm |
| MLB | Nova 800 | 50+ μm |
| Nova 600 | 75+ μm |
[AOI 검사 보조 제품]
 |
Verification Systems | CVR 100 IC | 5~25 μm |
| CVR 100 FL | 10~30 μm | ||
 |
Hybrid Verification Systems | VVR ICS | 4~25 μm |
[기타 제품]
 |
Photo-tools inspection | Phoenix PT/Micro | 7 μm |
| Phoenix PT+ | 12.5 μm |
AFVI Automated Final/Visual Inspection Systems
- 자동 육안/최종 검사(AVI/AFI)는 IC 기판 제조 마지막 단계에서 실시되는 공정으로 결함이 없는 제품을 보장합니다.
- CIMS AVI 솔루션은 IC 기판 제조업체의 특정 품질 요구 사항에 맞추어 설계되었습니다.
- CIMS 기술을 사용한 최종 검사는 최소의 false call과 결합되고 고생산성을 제공합니다.
제품 라인업
[Unicorn Series]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space |
|---|---|---|
| IC Substrate(Strips) | Unicorn 1200 Turbo | 5 μm |
| Unicorn 1200 Sharp* | 5 μm | |
| Unicorn 900 Turbo | 8 μm | |
| Unicorn 900 Sharp* | 8 μm | |
| Unicorn 600 Turbo | 10 μm | |
| Unicorn 600 Sharp* | 10 μm | |
| Unicorn 300 Turbo | 15 μm | |
| Unicorn 300 Sharp* | 15 μm |