PCB검사기
- CIMS는 IC Substates, HDI, FPCB, RFPCB 및 MLB에 이르기까지 PCB 산업 전반에 걸쳐 광범위한 AOI 시스템을 제공합니다.
- CIMS AOI는 고객이 PCB 제조 공정의 수율을 획기적으로 높이고 최종 제품의 품질을 개선할 수 있도록 지원하고 있습니다.
제품특징
- VVS
(Virtual Verification System) -
- AOI 본체에서 검출한 불량Point를 VVS에서 Color image 로 확인
- 선명한 Color image로 검사자의 불량 식별이 매우 용이
- 본 System의 적용으로 기존의 VRS운용 방식 대비 비용 및 인원 절감
- 탁월한 생산성
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- 경쟁사 대비 높은 생산성을 자랑함
- 탁월한 검출 능력
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- CIMS 만의 30년간 축적된 특별한 검사 기술로 검출 능력 극대화
CIMS AOI 장비 시리즈
[GALAXY SERIES]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space |
|---|---|---|
| IC Substrate | Galaxy 4x* | 4 μm |
| Galaxy 5x | 5 μm | |
| Galaxy 7x | 7 μm | |
| Galaxy 10x | 10 μm | |
| HDI | Galaxy 15x | 15 μm |
| Galaxy 25x | 25μm | |
| HDI, MLB | Galaxy 10x | 30 μm |
- Galaxy 플랫폼의 장점
- - 보다 콤팩트한 구조로 제작되어 진동 감소로 인한 진동 감소로 이미지 안정성 향상
- - 향후 업그레이드 및 개선에 대한 대응성 높은 설비 플랫폼
[PHOENIX SERIES]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space |
|---|---|---|
| IC Substrate | Quantum* coming soon | 2~3 μm |
| Phoenix Ultima | 4 μm | |
| Phoenix Nano | 5 μm | |
| Phoenix Micro | 7 μm | |
| Phoenix Maxima | 10 μm | |
| HDI | Phoenix Extra | 15 μm |
| Phoenix Turbo | 25μm | |
| HDI, MLB | Phoenix HDI | 30 μm |
| MLB | Nova 800 | 50+ μm |
| Nova 600 | 75+ μm |
[AOI 검사 보조 제품]
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Verification Systems | CVR 100 IC | 5~25 μm |
| CVR 100 FL | 10~30 μm | ||
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Hybrid Verification Systems | VVR ICS | 4~25 μm |
[기타 제품]
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Photo-tools inspection | Phoenix PT/Micro | 7 μm |
| Phoenix PT+ | 12.5 μm |
- 자동 육안/최종 검사(AVI/AFI)는 IC 기판 제조 마지막 단계에서 실시되는 공정으로 결함이 없는 제품을 보장합니다. IC Substates의 고밀도 구조는 고해상도 및 다양한 표면 결함 감지 성능이 높은 광학 검사가 요구됩니다.
- CIMS AVI 솔루션은 IC 기판 제조업체의 특정 품질 요구 사항에 맞추어 설계되었습니다.
- CIMS 기술을 사용한 최종 검사는 최소의 false call과 결합되고 고생산성을 제공합니다.
제품특징
[UNICORN SERIES]
| 검사대상 PCB | 모델명 | Line/Space |
|---|---|---|
| IC Substrate(Strips) | Unicorn 1200 Turbo | 5 μm |
| Unicorn 1200 Sharp*coming soon | 5 μm | |
| Unicorn 900 Turbo | 8 μm | |
| Unicorn 900 Sharp*coming soon | 8 μm | |
| Unicorn 600 Turbo | 10 μm | |
| Unicorn 600 Sharp*coming soon | 10 μm | |
| Unicorn 300 Turbo | 15 μm | |
| Unicorn 300 Sharp*coming soon | 15 μm |